分立器件测试仪系统

时间: 2024-07-19 18:13:09 |   作者: 产品类型

　　”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。

　　DCT1401分立器件测试仪系统适用于分立器件测试还可测试“结电容”，支持“脉冲式一键加热”和“分选机连接”

　　相对湿度：20%RH～75%RH (无凝露，湿球温度计温度45℃以下)；

　　2、失效分析（对失效器件来测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用的过程提出改善方案）

　　3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）

　　4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）

　　5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）

　　9、不同的封装形式提供对应的夹具和适配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

　　10、分立器件测试仪系统能测很多电子元器件（如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等）；

　　DCT1401分立器件测试仪系统是由我公司技术团队结合分立器件测试仪系统的多年经验，以及众多国内外检测系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的新新一代“分立器件测试仪系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能获得持续完善和不断的提升。

　　分立器件测试仪系统脉冲信号源输出方面，高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A）栅极电压40V，栅极电流10mA，分辨率最高至1mV / 30pA，精度最高可至0.5%。程控软件基于Lab VIEW平台编写，填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。产品可测试Si, SiC, GaN材料的IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs等7大类26分类的电子元器件。涵盖电子科技类产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。

　　产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器，还可以通过Prober接口、Handler接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动按照类别存储放置。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。

　　分立器件测试仪系统产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都很有优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更加高。测试数据可保存为EXCEL文本，方便快捷的完成分立器件测试。

　　(25)继电器类：4脚单刀单组、5脚单刀双组、8脚双组双刀、8脚双组四刀、固态继电器

　　说明：电流大于1.5A自动转为脉冲方式输出，脉宽范围：300us-1000us可调

　　DCT1401分立器件测试仪系统能测很多电子元器件（如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等）产品广泛的应用在院所高校、封测厂、电子厂......

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